汉芯事件无人担责是对学术腐败的纵容

2006-12-28 07:54:52 来源: 中国青年报(北京)
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年末盘点中国科技界,除了邹承鲁老人的逝去让人缅怀,几乎一地鸡毛。造假、剽窃、舞弊事件接二连三,尤以上海交通大学微电子学院前院长陈进“汉芯一号”事件为“可耻之最”。然而这一造假丑行,却没有相关责任人受到任何法律上的追究

我说汉芯事件“一点技术含量都没有”,应不算枉屈。陈仅仅靠雇人磨掉从美国买来的芯片原有标志,加上新标志,就变成了“完全拥有自主知识产权”的“汉芯一号”,借此申请了数十个科研项目,骗取高达上亿元的科研基金,并荣任了交大微电子学院院长、博导以及“长江学者”。

无论如何评价“汉芯事件”对科技创新的极大腐蚀力与破坏性,似乎都不为过。因为该事件从表面上看具有评审程序的合法性。上海交大为此发表的声明曾表示,“汉芯”系列芯片的研发过程,是按照国家有关规定和程序进行的,其科研成果通过了有关部门组织的验收。知名专家的一致肯定,其过程和程序中规中矩的背后,恰恰是学术良知和职业操守的集体性沦丧。因为,只要将所谓的“汉芯一号”芯片拿到freescale公司测试一下,谎言不攻自破,要真正鉴别其真伪易如反掌。

整个科技评估和鉴定过程中,先后经过上海市及国家诸个相关部门审核。所谓的“汉芯系列DSP”申报了“国家863计划项目”,申请了12项国家专利,这些权威机构似乎级别越高,证伪的能力便越低。正是这种不负责任,偏听偏信,给虚无的“汉芯一号”涂了一层层耀眼的油彩,为其弄虚作假大行其道提供了舞台和便利。

“汉芯一号”作为“全部拥有自主知识产权”的创新产品,迎合了某些权力机关和官员急于出政绩、树形象的功利心理。中国亟待在高新科技领域有所突破,国家政府对自主创新寄予了深厚乃至热切的期待。尤其自主研发高性能芯片,实在是我国科技界的一大梦想。所以,陈进便利用这种期盼,通过伪造的“汉芯一号”,把自己打扮成自主创新典范的同时,也为某些人增添了政绩。在把陈进树立为典型和样板的过程中,一些机构扮演了极不光彩甚至助纣为虐的角色。

无论是无能被骗,还是失德腐败,抑或是好大喜功,无疑共同构成了学术腐败扩散、科技造假猖狂的温床。“汉芯一号”事件,不仅暴露了我国当下学术评估体系重关系、人云亦云、缺乏职业操守等种种弊端,也暴露了某些政府组织和科研管理机构急于求成的浮躁心态。

可至今,评审专家应该负什么责任,相关部门要负什么责任,依然含糊不清。有关部门发布的《国家科技计划实施中科研不端行为处理办法(试行)》,不单处理办法不够细密,操作上不够具体,而且对如何进行法律追究未作突出表述。

邹承鲁先生去世前曾直言:“光说是不行的,对学术不端行为,一定要严查严办。”而“汉芯事件”竟然没有人承担法律责任,如此宽容乃至宽纵,要克制当前的腐败之风,还科学界一片净土,委实难矣。(刘效仁)

gogo 本文来源:中国青年报 责任编辑:王晓易_NE0011
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